특허/실용신안
특허 기본정보
재료 샘플의 화학 분석용 장치 및 이를 위한 금속로
특허 개요
기관명 | NDSL |
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출원인 | 지멘스 브이에이아이 메탈스 테크놀로지스 게엠베하 앤드 컴퍼니 |
출원번호 | 10-2003-7004124 |
출원일자 | 2003-03-21 |
공개번호 | 20080509 |
공개일자 | 2008-03-04 |
등록번호 | 10-0809563-0000 |
등록일자 | 2008-02-26 |
권리구분 | KPTN |
초록 | 고체 또는 액체 재료 샘플(8)을 레이저 유도 발광 분광학에 따라 화학 분석하는 장치에는 레이저 빔(11)을 발생시키는 레이저 소스(10), 레이저 빔을 편향시키는 편향 장치, 레이저 빔(11)을 집속하는 집속 장치, 및 상기 재료 샘플(8) 상의 레이저 빔(11)에 의하여 점화된 플라스마(25)의 반사(26)를 스펙트로미터와 같은 평가 장치(28)로 안내하는 장치(14)를 포함한다. 재료 샘플(8)에 의하여 영향을 받지 않도록 레이저 소스(10) 및 평가 장치(28)를 재료 샘플(8)로부터 멀리 떨어지게 배열할 수 있도록, 적어도 하나의 이동가능한 조인트(12)가 구비되고 레이저 빔(11)용의 캐버티를 갖는 암(14)이 레이저 소스(10)와 재료 샘플(8) 사이에 제공되어 레이저 빔(11)을 안내하고, 상기 암의 마디(12)에는 미러 또는 프리즘으로 구성되는 편향 장치가 제공됨으로써 레이저 소스(10) 및 평가 장치(28)가 재료 샘플(8)과 독립적으로 이동할 수 있도록 배열된다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020037004124 |
첨부파일 |
추가정보
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | |
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