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특허 실용신안

특허/실용신안

특허 기본정보

좁은 시야 X선 이미징 시스템 및 방법

특허 개요

특허 개요
기관명 NDSL
출원인 팔로덱스 그룹 오이
출원번호 10-2023-0145783
출원일자 2023-10-27
공개번호 20231109
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 X선 이미징 시스템 및 방법은 X선을 영사하는 X선 방출기를 포함한다.X선 수신기는 복수의 영사 이미지들을 생성하기 위해 X선 방출기로부터의 X선을 수신한다.적어도 하나의 거름판을 구비한 필터는 전체 시야의 적어도 하나의 감쇠된 부분 내에서 감쇠되는 X선을 이용하여 전체 시야 내에서 제한된 시야를 정의하도록 X선 방출기로부터의 X선의 적어도 일부분을 흡수한다.프로세서는 전체 시야의 영사 이미지들에 기초하여 3차원 이미지를 재구성한다.제한된 시야는 재구성된 3차원 이미지 내에 위치된다.적어도 하나의 보정 파라미터가 재구성된 3차원 이미지로부터 결정된다.3차원 이미지는 제한된 시야 및 적어도 하나의 보정 파라미터에 기초하여 재구성된다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020230145783
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과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE
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