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도핑분포함수에 따른 비대칭 이중게이트 MOSFET의 문턱전압이동현상

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기관명 NDSL
저널명 한국정보통신학회논문지 = Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
ISSN 2234-4772,
ISBN

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논문저자 및 소속기관 정보
저자(한글)
저자(영문)
소속기관
소속기관(영문)
출판인
간행물 번호
빌행연도 2015-01-01
초록 본 연구에서는 비대칭 이중게이트(double gate; DG) MOSFET의 채널 내 도핑분포함수의 변화에 따른 문턱전압이동 현상에 대하여 분석하였다. 반도체소자를 도핑시킬 때는 주로 이온주입법을 사용하며 이때 분포함수는 가우스분포를 나타내고 있다. 가우스분포함수는 이온주입범위 및 분포편차에 따라 형태를 달리하며 이에 따라 전송특성도 변화하게 된다. 그러므로 비대칭 DGMOSFET의 채널 내 도핑분포함수의 변화는 문턱전압에 영향을 미칠 것이다. 문턱전압은 트랜지스터가 동작하는 최소한의 게이트전압이므로 단위폭 당 드레인 전류가 $0.1{ mu}A$ 흐를 때 상단 게이트전압으로 정의하였다. 문턱전압을 구하기 위하여 해석학적 전위분포를 포아송방정식으로부터 급수형태로 유도하였다. 결과적으로 도핑농도가 증가하면 도핑분포함수에 따라 문턱전압은 크게 변하였으며 특히, 고 도핑 영역에서 하단 게이트전압에 따라 이온주입범위 및 분포편차에 의한 문턱전압의 변화가 크게 나타나는 것을 알 수 있었다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=NART&cn=JAKO201514039404625
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과학기술표준분류
ICT 기술분류
DDC 분류
주제어 (키워드) 비대칭 이중게이트 문턱전압 도핑분포 포아송방정식 가우스분포함수 asymmetric double gate threshold voltage doping profile Poisson equation Gaussian distribution function