장비
장비 기본정보
구면수차보정투과전자현미경
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | JEOL |
| 모델명 | ARM 200F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-11-20 |
| 취득금액 |
장비 개요
| 보유기관명 | 성균관대학교 공동기기원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A205 |
| 표준분류명 | 물리·재료장비 |
| 시설장비 설명 | 본 장비로는 TEM의 기능을 뛰어 넘는 공간분해능과 점분해능을 갖추고 있어 그동안 차세대 반도체 분석 난제로 여겨지던 나노 영역의 조성, 응역, 두께, 화학적 결합 등에 대한 분석 및 해석 가능, 첨단 Graphene 및 금속 나노재료의 미세구조, 화학분석, 그리고 물리적 특성 등의 첨단재료의 복합적 분석에 사용될 수 있음. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/YnkEcE1E0tMpBd3hLNQ5_w600.jpg |
| 장비위치주소 | 제1종합연구동 옆 전자현미경동(82101호) |
| NFEC 등록번호 | |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-SKKU-00045 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |