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장비 기본정보

이차이온질량분석기

장비 개요
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Cameca
모델명 IMS 7f
장비사양
취득일자 2008-09-11
취득금액

장비 개요

보유기관 및 이용정보
보유기관명 한국표준과학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B605
표준분류명
시설장비 설명 특징: 고체물질의 구성 성분 원소 상대적인 농도 및 깊이에 따른 분포도를 분석하는 표면분석 장비이다. 세슘이온과 산소이온 등 일차이온을 분석시편에 조사할 때 튀어나오는 이차이온을 분석하는 방법으로 마그네틱섹터형의 이차이온질량분석기이다. 반도체 및 태양전지등의 첨단 소재 분석에 활용된다. 구성: SIMS 본체 냉각수 순환 장치 무정전전원장치 컴퓨터 시스템 등
이온빔을 이용하여 고체 시편의 구성 원소 농도 및 깊이분포도를 측정함구성및성능
이차이온빔: O2 Ar Cs 에너지: 0.5 ~ 15 keV활용분야
미량성분 정량분석 깊이분포도 분석 이온매핑
장비이미지코드 http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201105/.thumb/20110512093752.jpg
장비위치주소 대전광역시 유성구 가정로 209 신소재동(301)
NFEC 등록번호 NFEC-2009-06-071382
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0012924
첨부파일

추가정보

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과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)