장비
장비 기본정보
실체현미경
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Park Scientific Instrument |
| 모델명 | AP-0100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1999-08-17 |
| 취득금액 |
장비 개요
| 보유기관명 | 충남대학교 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | AFM (Atomic Force MicroScope) 특징 Probe를 시료에 충돌시켜 튀어나온 Probe의 세기에 따른 시료의 표면 거칠기를 측정하는 장치구성및성능 BNC cable Connecter moniter Probe detecter 작동원리 프로브는 프로브의 모판 끝에 아주 미세한 힘에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링 끝에 원자 몇 개 정도의 크기로 끝이 가공된 탐침을 붙어 있으며 이 프로브 탐침의 끝을 샘플 표면에 근접시키면 끌어당기는 또는 밀어 내는 여러가지 힘이 샘플 표면의 원자와 탐침끝의 원자사이에 작용하는데 이 힘에 의해 캔티레버의 휨이 발생하고 이 힘이 일정하게 유지되도록 하면서 삼차원 영상을 얻을 수 있다.활용분야 반도체 표면 및 박막 표면의 거칠기 측정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201102/.thumb/20110216131925.jpg |
| 장비위치주소 | 대전 유성구 궁동 충남대학교 220 충남대학교 공과대학 1호관 3층 305 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-12-053320 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0013666 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |