장비
장비 기본정보
후방산란전자 회절분석 탐침기
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | Crystalin 200 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-02-29 |
| 취득금액 |
장비 개요
| 보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A200 |
| 표준분류명 | 기타장비 |
| 시설장비 설명 | 전자현미경의 시료 관찰시 발생되는 후방산란전자의 회절패턴을 분석하기위해 전자현미경의 본체에 장착하여 사용하는 회절분석용 형광판이 장착된 카메라 시스템임. 초고해상도 12 bit CCD camera (880 patterns/sec), 형광판 (solid angle 20 135°, sample screen distance 140 10mm)) 미세한 probe current: 800-1800pA@100patterns/sec 진동방지시스템 간편조작, 초고속 화면: less than 2sec. by manual movement 보정 프로그램 내장 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/WaOuvxk07gNpTU0wuH0h_w600.jpg |
| 장비위치주소 | 인천지역본부 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-03-157354 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-kitech-00117 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |