장비
장비 기본정보
엑스선 광전자분광기
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Thermo Fieher scientific |
| 모델명 | K-ALPHA ESCA SYS |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2011-10-13 |
| 취득금액 |
장비 개요
| 보유기관명 | 연세대학교 공동기기원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B521 |
| 표준분류명 | 화학·지구과학장비,물리·재료장비,시험·검� |
| 시설장비 설명 | X선을 시료에 쬐어서 방출되는 광전자의 에너지 측정을 통해 원소의 binding 에너지를 측정하여 시료 표면층의 조성 및 화학적 결합 상태 분석할 수 있는 장비임. 특히 시료 표면의 organic molecule의 화학결합상태나 오염정도를 측정할 수 있다. 2차원 평면에서의 원소 분포도를 얻을 수 있으며, low energy-Ar ion etching으로 damage를 최소화하여 에칭하면서 깊이방향 분석이 가능함. 표면에서 에칭하지 않고도 각도를 바꿔 실험함으로써 상대적인 depth profile을 얻을 수 있는 .Angle resolves XPS도 측정도 가능함. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/Bn3GN1xJtiUkxZ6PSKex_w600.bmp |
| 장비위치주소 | 첨단관 211호 |
| NFEC 등록번호 | |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-yonsei_crf-00004 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |