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특허 실용신안

특허/실용신안

특허 기본정보

축전 디바이스의 평가 방법, 축전 디바이스의 제조 방법, 및 시험 시스템

특허 개요

특허 개요
기관명 NDSL
출원인 도요타 지도샤(주)
출원번호 10-2020-0058801
출원일자 2020-05-18
공개번호 20200528
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 축전 디바이스의 평가 방법은 다음의 [a]∼[f]를 적어도 포함한다.[a] 축전 디바이스(101)를 준비한다.[b] 정극(10) 및 부극(20)의 사이에 제 1 전위차가 생기도록, 축전 디바이스(101)의 충전 레벨을 조정한다.[c] 정극(10) 또는 부극(20)을 기준 전극으로서 선택한다.[d] 충전 레벨의 조정 후, 기준 전극과, 도전성의 막대 형상 부재(1)와의 사이의 제 2 전위차를 측정하면서, 정극(10) 및 부극(20)의 적층 방향을 따라서, 적층부(50)에 막대 형상 부재(1)를 삽입하는 동작을 행한다.[e] 막대 형상 부재(1)를 정지한다.[f] 막대 형상 부재(1)의 정지 후의 축전 디바이스(101)의 상태에 따라, 축전 디바이스(101)를 평가한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020200058801
첨부파일

추가정보

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과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01R-031/36,G01R-031/50,H01G-004/30,H01M-010/42
주제어 (키워드)